3e édition de la Journée de la métrologie en aérospatiale – un franc succès!

Jeudi dernier, 130 personnes du domaine de la métrologie se sont réunies à l’École Polytechnique de Montréal pour assister aux conférences données dans le cadre de la 3e Journée de la métrologie en aérospatiale, organisée par Creaform.

Plusieurs conférences y ont été présentées par des experts de la métrologie provenant d’organisations renommées  telles que  l’École Polytechnique de Montréal, l’École de Technologie Supérieure, Mitutoyo, l’Institut de technologie de l’information du CRNC et la North America Coordinate Metrology Association (NACMA). Au menu notamment, Les technologies d’imagerie 3D en fabrication de pointe, Vérification de précision des machines-outils et MMT,  Intégration de la compensation soudage en métrologie et Les analyses R&R, utilités et pièges.

Vous auriez aimé y participer? Nous vous donnons rendez-vous le printemps prochain, pour la 4e édition de la JMA!